物标签是对实体设备所具有能力的结构化表达。通过物标签降低用户使用数据分析的成本,提升对物的分析能力,充分利用设备数据拓展业务。本章将详细介绍物标签及其使用方法。
操作步骤
- 登录数据分析控制台。
- 在上方导航栏中选择数据资产,单击物标签。
- 在物标签页面中查看所有物联网平台中已创建产品的物模型属性和事件、基础标签、复合标签等信息。有关物模型的详细内容,请参见物模型。
表 1. 物标签列表参数说明 参数 描述 ID 由系统自动生成的物标签ID。 英文名 物标签标识符。 标签名 物标签名称。 类型 物标签的类型,目前有四种类型。 - 基础标签:由物联网数据分析提供的基础标签。包括时序类型和快照类型的基础标签。
- 复合标签:由物联网数据分析提供的T+1指标标签。例如7日设备上下线数、消息数、延时等。
- 设备事件标签:事件类型的物模型标签。
- 设备属性标签:属性类型的物模型标签。仅支持显示快照或时序类型的设备属性标签。
查询量 使用该物标签进行可视化分析或时序透视的次数。 所属产品 该物标签所属的产品。 说明 基础标签和复合标签类型的物标签,是针对所有产品的数据统计物标签,因此所属产品显示为空。操作 单击对应操作: 在物标签页面,您可以通过筛选所属产品、类型或标签名称,筛选物标签列表中显示的物标签。
- 单击物标签名称或者对应操作栏中的查看,进入物标签详情页面查看标签详情。
表 2. 参数说明 参数 描述 英文名称 物标签的标识符。 描述 物标签的描述信息。无描述信息时显示“ -
”。基本信息 物标签的基本信息。 - ID:由系统自动生成的物标签ID。
- 所属产品:该物标签所属的产品。
说明 基础标签(时序/快照)和复合标签类型的物标签,是针对所有产品的数据统计物标签,因此所属产品显示为空。
- 标签类型:该物标签的标签类型。有基础标签、时序、属性三种标签类型。
详情 物标签的详细信息。 - 英文名:物标签的标识符。
- 数据来源:物联网数据分析获取该物标签的来源。
- 源ID类型:物标签所属产品的唯一标识符(ProductKey)。
说明 基础标签(时序/快照)和复合标签类型的物标签,是针对所有产品的数据统计物标签,因此源ID类型显示为
-
。 - 备注:物标签的备注信息。
- 数据类型:物标签的数据类型。
- 取值范围:物标签的取值范围。与物联网平台产品功能定义中的数据定义一致,产品功能定义,请参见物模型。
- 单位:物标签的单位。与物联网平台产品功能定义中的数据定义一致。
- (可选)单击测试物标签,可查看该物标签在所属产品某一设备上的数据。
- 基础标签(时序)的测试物标签对话框。
表 3. 参数说明 参数 描述 选择产品 选择进行测试的产品。 下拉框最多显示最近创建的50个产品,您可以通过搜索产品名称,搜索到所有已创建的产品。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如产品名称为test123abc,输入test即可搜索到相关前序名的产品。选择设备 选择产品下的某一个设备,进行物标签测试。 下拉框最多显示该产品下最近创建的15个设备,您可以通过搜索DeviceName,搜索到所有已创建的设备。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如设备名称为testdevice1,输入test即可搜索到相关前序名的设备。选择时间 可选择设备最近上报的10个数据、近10分钟内的设备数据或者近1小时内的数据,进行物标签测试。 - 基础标签(快照)和复合标签的测试物标签对话框。
表 4. 参数说明 参数 描述 选择产品 选择进行测试的产品。 下拉框最多显示最近创建的50个产品,您可以通过搜索产品名称,搜索到所有已创建的产品。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如产品名称为test123abc,输入test即可搜索到相关前序名的产品。选择设备 选择产品下的某一个设备,进行物标签测试。 下拉框最多显示该产品下最近创建的15个设备,您可以通过搜索DeviceName,搜索到所有已创建的设备。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如设备名称为testdevice1,输入test即可搜索到相关前序名的设备。 - 设备属性标签(时序)和设备事件标签的测试物标签对话框。
表 5. 参数说明 参数 描述 选择设备 选择该物标签所属产品下的某一个设备,进行物标签测试。 下拉框最多显示该产品下最近创建的15个设备,您可以通过搜索DeviceName,搜索到所有已创建的设备。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如设备名称为testdevice1,输入test即可搜索到相关前序名的设备。选择时间 可选择设备最近上报的10个数据、近10分钟内的设备数据或者近1小时内的数据,进行物标签测试。 说明 使用设备属性标签(时序)和设备事件标签进行测试时,显示的数据为分钟级,例如设备上报一个数据1分钟后,可在设备属性标签(时序)或设备事件标签中查询到该数据。 - 设备属性标签(快照)的测试物标签对话框。
表 6. 参数说明 参数 描述 选择设备 选择该物标签所属产品下的某一个设备,进行物标签测试。 下拉框最多显示该产品下最近创建的15个设备,您可以通过搜索DeviceName,搜索到所有已创建的设备。
说明 支持前序匹配的模糊搜索,例如设备名称为testdevice1,输入test即可搜索到相关前序名的设备。说明 使用设备属性标签(快照)进行测试时,显示的数据为秒级,例如设备上报一个数据1秒后,可在设备属性标签(快照)中查询到该数据。
- 基础标签(时序)的测试物标签对话框。
- (可选)单击快速时序透视,可对该物标签进行时序分析,具体操作,请参见时序透视。说明 仅基础标签(时序)、设备事件标签和设备属性标签(时序)类型的物标签,才会出现快速时序透视按钮。